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微纳-13-近场光强度分布测量系统
2013-12-17| 编辑: | 【

近场光强度分布测量系统

仪器型号:Radiant Zemax SIG-400TM

购置年月:20128

仪器简介:

SIG-400是对LED光源的优化测量系统,可减少系统的体积及降低成本,并简化测量的工序;此外,也提供了多样化的选配,如像素的分辨率、微观视野、标准视野、巨观视野的范围选择。SIG-400透过兼顾的机械结构设计、精准的光学配置以及软件控制,使其成为业界领导等级的准确量测系统,SIG-400在测量整个待测件的时候能够精准的定位到待测件的中心点,经测试后不超过15微米,当量测LED裸片时可让测量错误降到最小。

应用范围:

测量LED或是小面积广元所有角度近场光强度分布;测量LED或是小面积光源近场色度分布;提供光学设计与原型测试的近场模型。 

术参数:

 

 
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